Cơ sở quá trình hoạt động phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được thực hiện theo nguyên tắc nào?

Tôi có câu hỏi là Cơ sở quá trình hoạt động phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được thực hiện theo nguyên tắc nào? Mong nhận được câu trả lời sớm Câu hỏi của anh Đ.L đến từ Bình Dương.

Cơ sở quá trình hoạt động phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được thực hiện theo nguyên tắc nào?

Cơ sở quá trình hoạt động phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được thực hiện theo nguyên tắc được quy định tại tiểu mục 3.1 Mục 3 Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10310:2014 như sau:

- Tồn tại một mối quan hệ giữa khối lượng trên một đơn vị diện tích lớp phủ (và chiều dày tuyến tính của lớp phủ, nếu biết tỉ trọng) và cường độ bức xạ thứ cấp. Đối với bất kỳ hệ thống thiết bị thực tế nào, mối quan hệ này được thiết lập trước hết bằng cách hiệu chỉnh dùng các mẫu chuẩn hiệu chỉnh có các lớp phủ được biết trước khối lượng trên một đơn vị diện tích. Nếu biết được tỷ khối vật liệu phủ, các mẫu chuẩn như vậy có thể có các lớp phủ có chiều dày biết trước theo đơn vị tuyến tính, với điều kiện là giá trị tỷ khối thực cũng đã biết.

- CHÚ THÍCH: Tỷ khối vật liệu phủ là tỷ khối khi được phủ, có thể hoặc không có thể là tỷ khối lý thuyết của vật liệu phủ tại thời điểm thực hiện phép đo. Nếu tỷ khối này khác với tỷ khối của mẫu chuẩn dùng hiệu chỉnh, cần sử dụng một hệ số phản ánh sự khác nhau này và nó được ghi vào báo cáo thử.

- Cường độ huỳnh quang là một hàm theo bậc số nguyên tử của các nguyên tố. Các nguyên tố này sẽ phát ra bức xạ có tính đặc trưng cho từng nguyên tố với điều kiện là lớp phủ trên, lớp phủ trung gian (nếu có) và lớp nền chứa các nguyên tố khác nhau hoặc một lớp phủ có nhiều hơn một nguyên tố. Một hệ thống detector phù hợp có thể điều chỉnh được để chọn lọc một hoặc nhiều vùng năng lượng, giúp thiết bị có khả năng đo chiều dày và/hoặc thành phần của lớp phủ trên hoặc đồng thời lớp phủ trên và một số lớp phủ trung gian.

lớp phủ kim loại

Cơ sở quá trình hoạt động phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được thực hiện theo nguyên tắc nào? (Hình từ Internet)

Phép đo chiều dày các lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X dựa trên nguyên tắc nào?

Phép đo chiều dày các lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X dựa trên nguyên tắc được quy định tại tiết 3.2.1 tiểu mục 3.2 Mục 3 Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10310:2014 như sau:

Nguyên tắc
3.2. Kích thích
3.2.1. Quy định chung
Phép đo chiều dày các lớp phủ bằng phương pháp quang phổ tia X dựa trên tương tác kết hợp của một lớp phủ (hoặc các lớp phủ) và lớp nền với chùm tia X đơn năng hoặc đa năng mạnh, thường là hẹp. Tương tác này phát ra các bước sóng (hoặc năng lượng) rời rạc của bức xạ thứ cấp đặc trưng cho các nguyên tố cấu thành (các) lớp phủ và lớp nền.
Bức xạ phát ra thu được từ một thiết bị phát như ống tia X cao thế hoặc từ những đồng vị phóng xạ thích hợp.
3.2.2. Phát bằng ống tia X cao thế
Bức xạ kích thích phù hợp được tạo ra bằng ống tia X khi được cấp một điện thế đủ lớn và trong các điều kiện ổn định. Điện thế sử dụng từ 25 đến 50 kV đối với hầu hết các yêu cầu chiều dày, nhưng có thể cần thiết hạ điện thế xuống 10 kV để đo vật liệu phủ có số nguyên tử thấp. Trong một số ứng dụng, việc sử dụng một bộ lọc sơ cấp đặt giữa ống tia X và mẫu thử sẽ làm giảm độ không đảm bảo
Những lợi thế chính của phương pháp kích thích này là:
- Bằng cách chuẩn trực, có khả năng tạo ra một chùm tia có cường độ rất cao trên một đơn vị diện tích đo rất nhỏ;
- Dễ dàng kiểm soát đối với các yêu cầu an toàn về con người;
- Độ ổn định điện áp của quá trình phát xạ có thể đạt được bằng các phương pháp điện tử hiện đại.

Như vậy, theo quy định trên thì phép đo chiều dày các lớp phủ bằng phương pháp quang phổ tia X dựa trên tương tác kết hợp của một lớp phủ (hoặc các lớp phủ) và lớp nền với chùm tia X đơn năng hoặc đa năng mạnh, thường là hẹp. Tương tác này phát ra các bước sóng (hoặc năng lượng) rời rạc của bức xạ thứ cấp đặc trưng cho các nguyên tố cấu thành (các) lớp phủ và lớp nền.

Bức xạ phát ra thu được từ một thiết bị phát như ống tia X cao thế hoặc từ những đồng vị phóng xạ thích hợp.

Phát bằng đồng vị phóng xạ trong phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được quy định như thế nào?

Phát bằng đồng vị phóng xạ trong phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng phương pháp quang phổ tia X được quy định tại tiết 3.2.3 tiểu mục 3.2 Mục 3 Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10310:2014 như sau

- Chỉ có một số ít đồng vị phóng xạ phát ra bức xạ gamma trong vùng năng lượng thích hợp cho việc đo chiều dày lớp phủ.

- Điều lý tưởng là, bức xạ kích thích có một năng lượng cao hơn một chút (bước sóng ngắn hơn) so với các tia X đặc trưng yêu cầu. Ưu điểm của phát bằng đồng vị phóng xạ bao gồm khả năng tạo ra thiết bị gọn hơn, chủ yếu là nhờ không cần làm mát. Ngoài ra không giống các ống phát tia X cao thế, bức xạ về cơ bản là đơn sắc và có cường độ nền thấp.

- Những bất lợi kỹ thuật cơ bản khi so sánh với phương pháp ống tia X là:

+ Tạo ra cường độ thấp hơn nhiều làm hạn chế các phép đo trên diện tích nhỏ;

+ Một số đồng vị phóng xạ có chu kỳ bán rã ngắn;

+ Vấn đề bảo vệ con người liên quan tới đồng vị phóng xạ cường độ cao (ống tia X cao thế có thể được tắt nguồn một cách đơn giản).

Đi đến trang Tìm kiếm nội dung Tư vấn pháp luật - Lớp phủ kim loại

Bùi Thị Thanh Sương

Lớp phủ kim loại
Tiêu chuẩn Việt Nam
Căn cứ pháp lý
Đặt câu hỏi

Quý khách cần hỏi thêm thông tin về Lớp phủ kim loại có thể đặt câu hỏi tại đây.

TÌM KIẾM LIÊN QUAN
Lớp phủ kim loại Tiêu chuẩn Việt Nam
MỚI NHẤT
Pháp luật
TCVN 13733-2:2023 (ISO 20140-2:2018) về Hệ thống tự động hóa và tích hợp - Đánh giá hiệu suất năng lượng có ảnh hưởng đến môi trường?
Pháp luật
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10687-12-2:2023 hiệu suất năng lượng của tuabin gió phát điện dựa trên phép đo gió trên vỏ tuabin thế nào?
Pháp luật
Thiết kế mặt bằng tổng thể các sân thể thao cần phải bảo đảm những yêu cầu gì để đúng với TCVN 4205:2012?
Pháp luật
Diện tích tối thiểu đất xây dựng sân thể thao nhiều môn và khoảng cách ly vệ sinh đối với sân thể thao phải đảm bảo những yêu cầu gì?
Pháp luật
Khách hàng là gì? Sự thỏa mãn của khách hàng được xác định thế nào? Mô hình khái niệm về sự thỏa mãn của khách hàng?
Pháp luật
Điều kiện vận hành cụm đóng cắt và điều khiển hạ áp theo Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13724-1:2023?
Pháp luật
Máy xây dựng có được sử dụng khi chưa đưa vào danh sách tài sản cố định? Cần làm gì để đảm bảo máy làm việc tốt trong suốt thời gian sử dụng?
Pháp luật
TCVN 13809-1:2023 (ISO/IEC 22123-1:2021) về Công nghệ thông tin - Tính toán mây - Phần 1: Từ vựng thế nào?
Pháp luật
Hướng dẫn về quản trị danh mục đầu tư theo Tiêu chuẩn quốc gia? Trách nhiệm của chủ thể quản trị danh mục đầu tư?
Pháp luật
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13811:2023 ISO/IEC TS 23167:2020 về máy ảo và ảo hóa hệ thống như thế nào?
Xem thêm...
Chủ quản: Công ty THƯ VIỆN PHÁP LUẬT. Giấy phép số: 27/GP-TTĐT, do Sở TTTT TP. HCM cấp ngày 09/05/2019.
Chịu trách nhiệm chính: Ông Bùi Tường Vũ - Số điện thoại liên hệ: 028 3930 3279
Địa chỉ: P.702A , Centre Point, 106 Nguyễn Văn Trỗi, P.8, Q. Phú Nhuận, TP. HCM;
Địa điểm Kinh Doanh: Số 17 Nguyễn Gia Thiều, P. Võ Thị Sáu, Q3, TP. HCM;
Chứng nhận bản quyền tác giả số 416/2021/QTG ngày 18/01/2021, cấp bởi Bộ Văn hoá - Thể thao - Du lịch
Thông báo
Bạn không có thông báo nào